〔委 員 長〕川浪仁志(産総研)
〔副委員長〕奥村次徳(都立大)
〔幹 事〕岡田至崇(筑波大),羽路伸夫(横浜国大学)
日 時 9月21日(金)10:00〜17:00
協 賛 誘電体薄膜材料調査専門委員会(委員長
奥山雅則,幹事 山本直樹,阿部和秀,野田 実),ULSI用金属材料技術調査専門委員会(委員長
財満鎭明,幹事 山本直樹,大場隆之,幹事補佐
酒井 朗)
議 題 テーマ「低消費電力ゲート技術/High-kプロセス」
EFM-01-6 ZrO2-CVDプロセスの反応機構解析
川本高司,霜垣幸浩(東 大)
EFM-01-7 ECRスパッタによるhigh-k膜形成
小野俊郎,斎藤國夫,神 好人(NTT)
EFM-01-8 ZrO2/SiO2/Si積層構造の界面熱安定性
渡部平司(NEC)
EFM-01-9 高誘電率絶縁薄膜の電子状態分析―シリコンとのエネルギーバンドアライメントと膜中および界面欠陥密度評価―
宮崎誠一(広島大)
EFM-01-10 High-kゲート絶縁膜薄膜化への指針
山口 豪,佐竹秀喜,福島 伸(東芝)
EFM-01-11 パルスレーザー蒸着法によるHfO2薄膜の作製と電気的特性
池田浩也,後藤 覚,本多一隆,坂下満男,酒井 朗,財満鎭明,安田幸夫(名 大)
EFM-01-12 High-kゲート絶縁膜用酸化物材料の研究
徳光永輔,大見俊一郎,岩井 洋(東工大)
EFM-01-13 PrOx高誘電率ゲート絶縁膜のPLDによる作製と評価
北井 聡,寒川雅之,神田浩文,金島 岳,奥山雅則(大阪大)